Zapata Clavería M. Miedo y riesgo tecnológico en el catastrofismo filosófico de Jean Pierre Dupuy y Paul Virilio. Artefactos [Internet]. 27 de abril de 2018 [citado 8 de julio de 2025];7(1):155-73. Disponible en: https://revistas.usal.es/cinco/index.php/artefactos/article/view/art201871155173