ZAPATA CLAVERÍA, M. Miedo y riesgo tecnológico en el catastrofismo filosófico de Jean Pierre Dupuy y Paul Virilio. Artefactos. Revista de Estudios Filosóficos sobre Ciencia y Tecnología, [S. l.], v. 7, n. 1, p. 155–173, 2018. DOI: 10.14201/art201871155173. Disponível em: https://revistas.usal.es/cinco/index.php/artefactos/article/view/art201871155173. Acesso em: 17 jul. 2025.