[1]
Zapata Clavería, M. 2018. Miedo y riesgo tecnológico en el catastrofismo filosófico de Jean Pierre Dupuy y Paul Virilio. Artefactos. Revista de Estudios Filosóficos sobre Ciencia y Tecnología. 7, 1 (abr. 2018), 155–173. DOI:https://doi.org/10.14201/art201871155173.